La conférence se tiendra à Paris entre le mardi 29 septembre et le vendredi 2 octobre 2026, elle vise à réunir des chercheur.es intéressé.es par la MA-XRF et les techniques d’imagerie complémentaires pour l’étude du patrimoine culturel et naturel, comprenant l'imagerie spectroscopique par réflectance (RIS), l'imagerie spectroscopique de luminescence (LIS), la cartographie par diffraction des rayons X (DRX), l’imagerie XRF en mode confocal (CXRF), etc.
Les discussions porteront sur les dernières avancées dans le développement d’instruments, les méthodes d’évaluation des données et leurs applications dans les études de cas. Un accent particulier sera mis sur l’intégration de la MA-XRF avec d’autres techniques dans les approches analytiques multimodales.
Le vendredi 2 octobre au matin sera consacré aux enjeux spécifiques auxquels sont confrontés les conservateurs des musées.
La soumission des résumés sera ouverte à l’automne 2025 (date à venir).

Comité d'Organisation Local

Oulfa Belhadj, CRC, Paris, France

Lucile Brunel-Duverger, C2RMF, Paris, France

Thomas Calligaro, C2RMF/Lab-BC, Paris, France 

Marie-Angélique Languille, CRC, Paris, France

Anne Michelin, CRC, Paris, France

Laurent Pichon, C2RMF/Lab-BC, Paris, France

Marie Radepont, CRC, Paris, France

Ina Reiche, Lab-BC/C2RMF, Paris, France

Laurence de Viguerie, LAMS, Paris, France